紅外熱像儀應用于LED檢測

LED作為取代傳統(tǒng)照明工具（如白熾燈、鹵素燈等）的新型光源，但其散熱效果嚴重影響LED的實際使用壽命，散熱工藝成為LED應用和發(fā)展的關鍵因素，紅外熱像儀可以進行LED溫度檢測，幫助驗證散熱工藝。

LED（Light Emitting Diode）又稱發(fā)光二極管，是利用固體半導體芯片作為發(fā)光材料，當兩端施加正向電壓時，半導體中的載流子發(fā)生復合，放出過剩的能量而引起光子發(fā)射產(chǎn)生可見光、遠紅外、近紅外光。

LED是一種新型的固態(tài)光源，已經(jīng)在特殊領域顯現(xiàn)出自身優(yōu)異的效果，各種類型的LED、利用LED作二次開發(fā)的產(chǎn)品有與LED配套的產(chǎn)品發(fā)展迅速，新產(chǎn)品不斷上市，已發(fā)展成不少新型產(chǎn)業(yè)。展望將來，還期望更進一步的提高。

事實上，LED的實際壽命一工作溫度往往成反比，如LED使用壽命在工作溫度為74℃為10000小時，63為25000小時，小于59，則可為50000小時。根本原因是LED的光電轉換效率極差，大約只有15%至20%左右電能轉為光輸出，其余均轉換成為熱能，因此，當大量使用高功率的LED于一塊模組，應用于高亮度的操作時，這些極差的轉換效率將造成成散熱處理的大問題。

熱像儀不僅在研發(fā)過程中能夠了發(fā)揮作用，而且也可以應用在產(chǎn)品的品質(zhì)管理等方面。

1. 研發(fā)，主要是對LED模塊驅動電路（包括電源）、光源半導體發(fā)熱分布分析、及光衰測試等。

a) LED產(chǎn)品研發(fā)中，需要工程師進行一部分驅動電路設計，如整流器電路模塊。利用熱像儀，工程師可以迅速而便宜捷地發(fā)現(xiàn)電路上溫度異常之處，便于完善電路設計。

b) LED光源半導體芯片發(fā)熱

利用熱像儀、工程師可以所得到的光源半導體芯片發(fā)熱紅外熱圖，分板出其芯片在工作時的溫度，以及溫度的分布情況，在些基礎，達到提高LED產(chǎn)品壽命的目的。

c) 光衰試驗

LED產(chǎn)呂的光衰就是光在傳輸中的信號減弱，而現(xiàn)階段全球的LED大廠們做出的LED產(chǎn)品光衰程度都不相同，大功率LED同樣存在光衰，這和溫度有著直接的關系，主要是由晶片、熒光粉和封裝技術決定的。

目前，市場上的白光LED其光衰可能是向民用照明進軍的首要問題之一。

2. 品質(zhì)管理

a) 半導體照明：吹制燈泡均勻性

通過像儀抓拍產(chǎn)線玻璃吹泡的過程，進行參數(shù)修正，改善掐口工藝，可以有效提高產(chǎn)品成品率，降低成本。

b) LED檢測芯片封裝前的溫度

LED芯片封裝前檢測溫度可以避免封裝后因溫度異常，降低廢品率。此階段手不能接觸表面，熱像儀能夠很好地幫助客戶發(fā)現(xiàn)此處的問題，作為流水線檢測工具。

LED成品測試                                                       IR-Fusion

c) LED成品顯示屏開機測試

LED顯示屏完成后，要做后驗收，通過不同顏色的測試來看屏幕是否符合交貨的要求，目前大多數(shù)企業(yè)都沒有這個流程。使用熱像儀后，能夠為廠家完善產(chǎn)品檢測標準，提高產(chǎn)品質(zhì)量。

飛利浦、松下電器等。

在使用熱像儀前，LED產(chǎn)品企業(yè)一直都沒有很好的解決這個問題手段或方法。熱像儀能夠發(fā)揮獨特作用：

1. 通過紅外線熱像儀檢測目標時，不需要斷電，操作方便，同時非接觸測量原有的溫度場不受干擾；反應速度較快，小于1毫秒。

2. Fluke熱像儀IR-Fusion技術：用戶采用Fluke**IR-Fusion技術除了可以拍攝紅外圖像外，還可以同時捕獲一幅可見光照片，并裝其融合在一起，有助于時間識別和定位故障。

使用熱像儀進行拍攝時，若要得到一幅優(yōu)良的紅外熱圖，我們建議：

1. 需要分辨較小的溫差場合，盡量選擇熱靈敏度較高的熱像儀；

2. 先用自模式測量溫度范圍；然后手動設置水平及跨度，將溫度范圍設置在小，并包含有先前測量的溫度范圍。